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  案件狀態     權利異動  
公告號
I627400 
專利名稱 被動元件批次式檢測之缺陷品剔除方法及其剔除系統
公告日 2018/06/21
證書號 I627400
申請日 2017/04/11
申請號 106112028
國際分類號
/IPC
G01N-021/892(2006.01)
公報卷期 45-18
發明人 鄭慶章
申請人 仲鈜科技股份有限公司 高雄市前鎮區復興四路2號4樓之1 TW
代理人 陳瑞田;
金玉書
參考文獻 TW201036032A
TW201443459A
US2007/0253238A1
審查人員 劉守禮
摘要 一種被動元件批次式檢測之缺陷品剔除方法及其剔除系統,該方法包括:首先提供一承載並黏著有多個被動元件的膠帶載體;其次進行該些被動元件的缺陷檢測,以獲得包括至少一被動元件缺陷品位置的一檢測資訊;繼而進行至少一被動元件缺陷品之剔除,以一缺陷品剔除系統解析該檢測資訊,並自動地將對應的被動元件缺陷品自該膠帶載體移除,藉以完全自動化整個被動元件缺陷剔除過程,改善剔除效率及剔除正確率。
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