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公告號
I663416 
專利名稱 光學測距方法及光相位差檢測系統
OPTICAL RANGING METHOD AND PHASE DIFFERENCE OF LIGHT MEASUREMENT SYSTEM
公告日 2019/06/21
證書號 I663416
申請日 2018/01/03
申請號 107100120
國際分類號
/IPC
G01S-017/32(2006.01);G01S-017/42(2006.01)
公報卷期 46-18
發明人 姚斌誠 YAO, BIN-CHENG;
彭錦龍 PENG, JIN-LONG
申請人 財團法人工業技術研究院 INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE 新竹縣竹東鎮中興路四段195號 TW
代理人 許世正
優先權
美國 15/857,216 20171228
參考文獻 TW200739036A
TW200903013A
TW201411166A
JP2007-212427A
US2013/0120361A1
審查人員 机亮燁
摘要 一種測距光源,包括一光源、一分頻裝置與一傳送端。光源用以產生一光梳雷射。分頻裝置用以依據該光梳雷射產生多個出射雷射光束,該些出射雷射光束分別具有不同的中心頻率。傳送端用以輸出該些出射雷射光束。其中,該光源、該分頻裝置與該傳送端位於一第一光學路徑上。於該第一光學路徑上,該分頻裝置位於該光源與該傳送端之間。
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