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  案件狀態     權利異動  
公告號
I667474 
專利名稱 雙腔室分析測試條
DUAL-CHAMBER ANALYTICAL TEST STRIP
公告日 2019/08/01
證書號 I667474
申請日 2014/11/20
申請號 103140161
國際分類號
/IPC
G01N-027/327(2006.01);C12Q-001/00(2006.01)
公報卷期 46-22
發明人 艾爾德 大衛 ELDER, DAVID;
賽福特 史蒂芬 SETFORD, STEVEN;
福克納 艾倫 FAULKNER, ALLAN;
沃許 雷恩 WALSH, RYAN
申請人 瑞士商希拉格國際有限公司 CILAG GMBH INTERNATIONAL 瑞士 CH
代理人 林秋琴;
陳彥希
優先權
美國 14/087,453 20131122
參考文獻 TW201140048A
TW201140049A
JP6-324015A
JP2007-114198A
JP2011-502263A
JP2013-538341A
WO2004/062494A1
審查人員 陳勇志
摘要 一種分析測試條可包括界定兩個流體分離的試樣槽之一經圖案化之界定層,該兩個流體分離的試樣槽具有各別埠、配置於該界定層之上並且與該等槽之各者電性連通之一共用電極、以及各別槽電極。可曝露各電極之表面部分。一種用於使用此一測試條來測試一流體試樣之方法包括接收該第一試樣槽中的一第一流體試樣並且檢測其一第一電性特性。接著判斷是否應添加一第二流體試樣至另一試樣槽。一種分析物測量系統可包括此一測試條以及用以接收該測試條之測試計。該測試計可檢測該等槽中流體試樣的各別電性特性。
縮圖尺寸